美國(guó)達(dá)高特CMX DL+超聲波測(cè)厚儀主要功能特點(diǎn)

CMX DL+ 測(cè)厚儀不僅有MVX的所有功能，而且還有同時(shí)測(cè)量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。

測(cè)量方式（僅測(cè)量基體厚度、同時(shí)測(cè)量基體和涂層的厚度、僅測(cè)量涂層厚度）

顯示模式（數(shù)字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅cmx>）

增益可調(diào)節(jié)：低、中、高

增益值可到110dB

自動(dòng)增益控制（AGC）

時(shí)間增益校正（TCG）

探頭自動(dòng)識(shí)別，自動(dòng)調(diào)零和溫度補(bǔ)償

最大值、最小值顯示

可存儲(chǔ)64個(gè)用戶參數(shù)設(shè)置

高速掃查（50次/秒）

高達(dá)140HZ的脈沖重復(fù)頻率

B掃描顯示用于顯示被測(cè)材料的截面形狀

A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+）

差值測(cè)量模式

高速掃查功能可用于快速找到壁厚的最小值

上/下限聲光報(bào)警功能

數(shù)據(jù)存貯：可儲(chǔ)21000個(gè)測(cè)量厚度值或者16000個(gè)測(cè)量厚度值和B掃描圖形及參數(shù)

可通過軟件與計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，方便用戶打印檢測(cè)報(bào)告

技術(shù)參數(shù)：